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सीरियल ब्लॉक फेस स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी द्वारा 3डी मानव गुणसूत्र इमेजिंग की भविष्य की संभावनाएं

मोहम्मद यूसुफ, बो चेन और इयान रॉबिन्सन

मानव गुणसूत्रों की उच्च क्रम संरचना को स्पष्ट किया जाना अभी बाकी है, जबकि 30 एनएम का रहस्य अभी भी बना हुआ है। आंतरिक संरचना निर्धारण के लिए, ट्रांसमिशन इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (TEM) का उपयोग नहीं किया जा सकता है क्योंकि गुणसूत्र बहुत मोटे होते हैं (लगभग 1.4 माइक्रोन) और स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (SEM) एक सतह इमेजिंग तकनीक है। इस उद्देश्य के लिए, पहली बार माइटोटिक मानव गुणसूत्र की इमेजिंग पर त्रि-आयामी (3D) सीरियल ब्लॉक फेस स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (SBFSEM) का उपयोग किया गया था [1]।

अस्वीकृति: इस सारांश का अनुवाद कृत्रिम बुद्धिमत्ता उपकरणों का उपयोग करके किया गया है और इसे अभी तक समीक्षा या सत्यापित नहीं किया गया है।