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छोटे लंबाई के पैमाने पर प्रिस्टिन और इलेक्ट्रॉन विकिरणित कार्बन नैनोट्यूब यार्न के विद्युत गुण

फ्रांसिस्को सोला

इस रिपोर्ट में कार्बन नैनोट्यूब (CNT) यार्न की विद्युत प्रतिरोधकता पर ई-बीम विकिरण के प्रभाव का अध्ययन ट्रांसमिशन इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप (TEM) पर इलेक्ट्रॉन बीम विकिरण का उपयोग करके किया गया था, उसके बाद स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप (SEM) में दो जांच प्रतिरोधकता विधि का उपयोग किया गया था। हाई रेजोल्यूशन TEM (HRTEM) द्वारा प्रकट किए गए अनुसार, CNT यार्न के भीतर स्थानीय क्रॉसलिंकिंग और अनाकार क्षेत्र दोनों को इलेक्ट्रॉन खुराक में वृद्धि के साथ देखा गया था। प्रतिरोधकता का निचला सीमा मान उपयोग की गई अधिकतम खुराक पर प्राप्त किया गया था, जो कि प्रिस्टिन यार्न की प्रतिरोधकता से कम था। प्रतिरोधकता डेटा को एक प्रस्तावित मॉडल द्वारा समझाया गया है जो सूक्ष्म संरचनात्मक परिवर्तनों को ध्यान में रखता है।

अस्वीकृति: इस सारांश का अनुवाद कृत्रिम बुद्धिमत्ता उपकरणों का उपयोग करके किया गया है और इसे अभी तक समीक्षा या सत्यापित नहीं किया गया है।